Главная » 2009»Май»4 » Вторая школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии.
10:29:07
Вторая школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии.
Вторая школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и
наноиндустрии. Пространственные характеристики наноматериалов и
наноструктур»
Государственная корпорация «Российская корпорация
нанотехнологий», совместно с Федеральным агентством по техническому
регулированию и метрологии и Научным советом РАН по электронной
микроскопии проведет с 28 по 30 мая 2009 г. в Черноголовке вторую школу
«Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии.
Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур».
С полным текстом информационного сообщения можно ознакомиться здесь.
